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석면분석 장비소개 [출처: 석면안전관리센터 홈페이지 및 환경부 석면관리 총람]

1. 위상차 현미경(PCM)의 구조 및 원리
-분석 대상물질을 현미경으로 볼 때 각 부분에 투과되는 빛의 위상차를 명암으로 바꾸어 상의관찰을 확인 가능하게 함
-길이 5마이크로미터 보다 길고, 길이:직경 = 3:1 을 초과하는 석면 섬유를 직접 계수

2. 편광현미경(PLM)의 구조 및 원리
-빛의 한쪽 방향으로 투과하는 편광을 이용하여 투과되는 물질의 광학적 성질을 이용하여 관찰
-편광판을 통해 빛이 투과하면 한 방향으로만 진동하게 되고 2개의 편광판에 의한 빛의 굴절에 따라 물질특성 및 성분을 구별하는 방법
-대안렌즈, 상부 편광판, 대물렌즈, 회전 재물대, 수렴렌즈, 하부  편광판, 조리개 등으로 구성

4. X-선 회절장비(XRD)의 구조 및 원리
-X-선 회절기로 판단할 수 있는 석면의 정량범위는 0.1~100.0 중량백분율(wt%)임
-간섭물질로는 클로라이트, 해포석, 석고, 섬유소, 탄산칼슘, 활석 등이 있으며 이런 간섭물질은 회화, 산, 용매 등의 처리방법을 선택하여 간섭물질을 제거할 수 있음
-안티고라이트, 리자다이트는 백석면, 활로이사이트, 카올리나이트는 갈석면과 동일한 X-선 회절피크를 가지고 있는 물질임으로 확인이 필요함

● 석면분석의 정성 및 정량적 방법